微电子和半导体-

制造厂商:    德国 leica

检验系统凭借大视场帮助您的团队更快地识别缺陷,提高您的收益率

在微电子和半导体行业中,检验、过程控制或缺陷和故障分析的速度至关重要。检测缺陷的速度越快,您做出响应的速度也就越快。

视场宽敞 30%

dm3 xl 检验系统凭借大视场帮助您的团队更快地识别缺陷,提高您的收益率。充分利用独特的宏观物镜,视场宽敞 30%。

适用于所有相衬观察方法的 led

dm3 xl 针对所有相衬观察方法使用 led 照明。led 照明可提供恒定的色温,并在所有亮度等级下提供真彩色成像。

在所有亮度等级下实现真彩色成像

自由调节

无需更换灯泡 – 无停机时间

可复制的结果

由于 led 使用寿命长,耗电量低,因此还具有巨大的成本节约潜力

光学“高手”

dm3 xl 让您以实惠的价格享受到卓越的光学性能。

采用斜射照明检验侧面、边缘或碎屑:以简单有效的方式从不同角度照亮样品,从而实现各种形貌的可视化。

借助深暗场对比检测样品较低层中的微小划痕或小颗粒。

您将对明显提高的灵敏度和分辨率感到震惊。